1. Chip na may programa
1. Ang mga EPROM chip ay karaniwang hindi angkop para sa pinsala.Dahil ang ganitong uri ng chip ay nangangailangan ng ultraviolet light upang burahin ang programa, hindi nito masisira ang programa sa panahon ng pagsubok.Gayunpaman, mayroong impormasyon: dahil sa materyal na ginamit sa paggawa ng chip, habang tumatagal ang oras, kahit na hindi ito ginagamit, maaari itong masira (pangunahin na tumutukoy sa programa).Kaya ito ay kinakailangan upang i-back up ito hangga't maaari.
2. Ang EEPROM, SPROM, atbp., pati na rin ang mga RAM chips na may mga baterya, ay napakadaling sirain ang programa.Kung masisira ng naturang mga chip ang programa pagkatapos gamitin angupang i-scan ang VI curve ay hindi pa conclusive.Gayunpaman, mga kasamahan Kapag nakatagpo tayo ng ganitong uri ng sitwasyon, mas mabuting mag-ingat.Ang may-akda ay gumawa ng maraming mga eksperimento, at ang pinaka-malamang na dahilan ay: ang pagtagas ng shell ng tool sa pagpapanatili (tulad ng tester, electric soldering iron, atbp.).
3. Para sa chip na may baterya sa circuit board, huwag itong madaling alisin sa board.
2. I-reset ang circuit
1. Kapag may malakihang integrated circuit sa circuit board na aayusin, dapat bigyang pansin ang problema sa pag-reset.
2. Bago ang pagsubok, pinakamahusay na ilagay ito muli sa aparato, i-on at i-off ang makina nang paulit-ulit at subukan ito.At pindutin ang reset button ng ilang beses.
3. Pagsusuri ng function at parameter
1.maaari lamang ipakita ang cut-off area, amplification area at saturation area kapag nakita ang device.Ngunit hindi nito masusukat ang mga tiyak na halaga tulad ng dalas ng pagpapatakbo at bilis.
2. Sa parehong paraan, para sa TTL digital chips, tanging ang mga pagbabago sa output ng mataas at mababang antas ang maaaring malaman, ngunit ang bilis ng pagtaas at pagbaba ng mga gilid nito ay hindi matukoy.
4. Crystal oscillator
1. Karaniwan lamang ang isang oscilloscope (ang crystal oscillator ay kailangang i-on) o isang frequency meter ang maaaring gamitin para sa pagsubok, at ang isang multimeter ay hindi maaaring gamitin para sa pagsukat, kung hindi, ang paraan ng pagpapalit ay maaari lamang gamitin.
2. Ang mga karaniwang pagkakamali ng crystal oscillator ay: a.panloob na pagtagas, b.panloob na bukas na circuit, c.variable frequency deviation, d.pagtagas ng paligid konektado capacitors.Ang hindi pangkaraniwang bagay ng pagtagas dito ay dapat masukat sa pamamagitan ng VI curve ng.
3. Dalawang paraan ng paghatol ang maaaring gamitin sa buong board test: a.Sa panahon ng pagsubok, nabigo ang mga kaugnay na chip na malapit sa crystal oscillator.b.Walang ibang fault point na makikita maliban sa crystal oscillator.
4. Mayroong dalawang karaniwang uri ng mga crystal oscillator: a.dalawang pin.b.apat na pin, kung saan ang pangalawang pin ay pinapagana, at ang atensyon ay hindi dapat mai-short-circuited sa kalooban.lima.Pamamahagi ng fault phenomena 1. Hindi kumpletong istatistika ng mga sira na bahagi ng circuit board: 1) chip damage 30%, 2) discrete component damage 30%,
3) 30% ng mga kable (PCB coated copper wire) ay nasira, 4) 10% ng program ay nasira o nawala (may pataas na trend).
2. Makikita mula sa itaas na kapag may problema sa koneksyon at programa ng circuit board na ayusin, at walang magandang board, hindi pamilyar sa koneksyon nito, at hindi mahanap ang orihinal na programa, ang posibilidad ng pag-aayos ng board ay hindi mahusay.
Oras ng post: Mar-06-2023