1. Cip cu program
1. Cipurile EPROM nu sunt, în general, potrivite pentru deteriorare.Deoarece acest tip de cip are nevoie de lumină ultravioletă pentru a șterge programul, nu va deteriora programul în timpul testului.Cu toate acestea, există informații: din cauza materialului folosit pentru a face cip, pe măsură ce timpul trece Long), chiar dacă nu este folosit, acesta poate fi deteriorat (se referă în principal la program).Prin urmare, este necesar să-l faceți o copie de rezervă cât mai mult posibil.
2. EEPROM, SPROM, etc., precum și cipurile RAM cu baterii, sunt foarte ușor de distrus programul.Dacă astfel de cipuri vor distruge programul după utilizareascanarea curbei VI nu este încă concludentă.Totuși, colegii, Când întâlnim astfel de situații, este mai bine să fim atenți.Autorul a făcut multe experimente, iar motivul cel mai probabil este: scurgerea carcasei instrumentului de întreținere (cum ar fi tester, fier de lipit electric etc.).
3. Pentru cipul cu baterie pe placa de circuit, nu-l scoateți ușor de pe placă.
2. Resetați circuitul
1. Când există un circuit integrat la scară largă pe placa de circuite care trebuie reparat, trebuie acordată atenție problemei de resetare.
2. Înainte de testare, cel mai bine este să îl puneți înapoi pe dispozitiv, să porniți și să opriți aparatul în mod repetat și să încercați.Și apăsați butonul de resetare de mai multe ori.
3. Test de funcții și parametri
1.poate reflecta numai zona de decuplare, zona de amplificare și zona de saturație atunci când detectează dispozitivul.Dar nu poate măsura valorile specifice, cum ar fi frecvența de funcționare și viteza.
2. În același mod, pentru cipurile digitale TTL, pot fi cunoscute doar modificările de ieșire ale nivelurilor înalte și scăzute, dar viteza marginilor sale de creștere și coborâre nu poate fi detectată.
4. Oscilator de cristal
1. De obicei, doar un osciloscop (osciloscopul cu cristal trebuie pornit) sau un frecvențămetru poate fi folosit pentru testare, iar un multimetru nu poate fi folosit pentru măsurare, în caz contrar, metoda de înlocuire poate fi folosită doar.
2. Defecțiunile comune ale oscilatorului cu cristale sunt: a.scurgeri interne, b.circuit deschis intern, c.abaterea de frecvență variabilă, d.scurgerea condensatoarelor conectate periferice.Fenomenul de scurgere aici ar trebui măsurat prin curba VI a.
3. Două metode de judecată pot fi utilizate în testul întregului consiliu: a.În timpul testului, cipurile aferente din apropierea oscilatorului cu cristal eșuează.b.Nu se găsesc alte puncte de eroare cu excepția oscilatorului cu cristal.
4. Există două tipuri comune de oscilatoare cu cristale: a.doi ace.b.patru pini, dintre care al doilea pin este alimentat, iar atenția nu trebuie scurtcircuitată după bunul plac.Cinci.Distribuția fenomenelor de defecțiune 1. Statistici incomplete ale părților defecte ale plăcii de circuite: 1) deteriorarea cipurilor 30%, 2) deteriorarea componentelor discrete 30%,
3) 30% din cablare (pagCB fir de cupru acoperit) este rupt, 4) 10% din program este deteriorat sau pierdut (există o tendință ascendentă).
2. Din cele de mai sus se poate observa că, atunci când există o problemă cu conexiunea și programul plăcii de circuite care trebuie reparată și nu există nicio placă bună, nu este familiarizată cu conexiunea acesteia și nu poate găsi programul original, există posibilitatea de a repara placa nu este grozav.
Ora postării: Mar-06-2023