ਪੀਸੀਬੀ ਦਾ ਨਿਰੀਖਣ ਅਤੇ ਮੁਰੰਮਤ

1. ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਦੇ ਨਾਲ ਚਿੱਪ
1. EPROM ਚਿਪਸ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨੁਕਸਾਨ ਲਈ ਢੁਕਵੇਂ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦੇ ਹਨ. ਕਿਉਂਕਿ ਇਸ ਕਿਸਮ ਦੀ ਚਿੱਪ ਨੂੰ ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਨੂੰ ਮਿਟਾਉਣ ਲਈ ਅਲਟਰਾਵਾਇਲਟ ਰੋਸ਼ਨੀ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਇਹ ਟੈਸਟ ਦੌਰਾਨ ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ ਨਹੀਂ ਪਹੁੰਚਾਏਗੀ। ਹਾਲਾਂਕਿ, ਇੱਥੇ ਜਾਣਕਾਰੀ ਹੈ: ਚਿਪ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਵਰਤੀ ਗਈ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਸਮਾਂ ਲੰਮਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ), ਭਾਵੇਂ ਇਹ ਨਾ ਵਰਤੀ ਜਾਵੇ, ਇਹ ਨੁਕਸਾਨ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ (ਮੁੱਖ ਤੌਰ 'ਤੇ ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਦਾ ਹਵਾਲਾ ਦਿੰਦਾ ਹੈ)। ਇਸ ਲਈ ਜਿੰਨਾ ਸੰਭਵ ਹੋ ਸਕੇ ਇਸਦਾ ਬੈਕਅੱਪ ਲੈਣਾ ਜ਼ਰੂਰੀ ਹੈ।
2. EEPROM, SPROM, ਆਦਿ, ਅਤੇ ਨਾਲ ਹੀ ਬੈਟਰੀਆਂ ਵਾਲੇ RAM ਚਿਪਸ, ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਨੂੰ ਨਸ਼ਟ ਕਰਨ ਲਈ ਬਹੁਤ ਆਸਾਨ ਹਨ। ਕੀ ਅਜਿਹੀਆਂ ਚਿੱਪਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਨੂੰ ਨਸ਼ਟ ਕਰ ਦੇਵੇਗਾ VI ਕਰਵ ਨੂੰ ਸਕੈਨ ਕਰਨਾ ਅਜੇ ਨਿਰਣਾਇਕ ਨਹੀਂ ਹੈ। ਹਾਲਾਂਕਿ, ਸਾਥੀਓ ਜਦੋਂ ਅਸੀਂ ਇਸ ਕਿਸਮ ਦੀ ਸਥਿਤੀ ਦਾ ਸਾਹਮਣਾ ਕਰਦੇ ਹਾਂ, ਤਾਂ ਸਾਵਧਾਨ ਰਹਿਣਾ ਬਿਹਤਰ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਲੇਖਕ ਨੇ ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਪ੍ਰਯੋਗ ਕੀਤੇ ਹਨ, ਅਤੇ ਸਭ ਤੋਂ ਸੰਭਾਵਤ ਕਾਰਨ ਇਹ ਹੈ: ਰੱਖ-ਰਖਾਅ ਦੇ ਸਾਧਨ ਦੇ ਸ਼ੈੱਲ ਦਾ ਲੀਕ ਹੋਣਾ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਟੈਸਟਰ, ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਸੋਲਡਰਿੰਗ ਆਇਰਨ, ਆਦਿ)।
3. ਸਰਕਟ ਬੋਰਡ 'ਤੇ ਬੈਟਰੀ ਵਾਲੀ ਚਿੱਪ ਲਈ, ਇਸਨੂੰ ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਬੋਰਡ ਤੋਂ ਨਾ ਹਟਾਓ।

2. ਸਰਕਟ ਰੀਸੈਟ ਕਰੋ
1. ਜਦੋਂ ਮੁਰੰਮਤ ਕੀਤੇ ਜਾਣ ਵਾਲੇ ਸਰਕਟ ਬੋਰਡ 'ਤੇ ਵੱਡੇ ਪੈਮਾਨੇ ਦਾ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਸਰਕਟ ਹੋਵੇ, ਤਾਂ ਰੀਸੈਟ ਸਮੱਸਿਆ ਵੱਲ ਧਿਆਨ ਦਿੱਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ।
2. ਟੈਸਟ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ, ਇਸਨੂੰ ਡਿਵਾਈਸ 'ਤੇ ਵਾਪਸ ਰੱਖਣਾ, ਮਸ਼ੀਨ ਨੂੰ ਵਾਰ-ਵਾਰ ਚਾਲੂ ਅਤੇ ਬੰਦ ਕਰਨਾ ਅਤੇ ਇਸਨੂੰ ਅਜ਼ਮਾਉਣਾ ਸਭ ਤੋਂ ਵਧੀਆ ਹੈ। ਅਤੇ ਰੀਸੈਟ ਬਟਨ ਨੂੰ ਕਈ ਵਾਰ ਦਬਾਓ।

3. ਫੰਕਸ਼ਨ ਅਤੇ ਪੈਰਾਮੀਟਰ ਟੈਸਟ
1. ਡਿਵਾਈਸ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣ ਵੇਲੇ ਸਿਰਫ ਕੱਟ-ਆਫ ਖੇਤਰ, ਐਂਪਲੀਫਿਕੇਸ਼ਨ ਖੇਤਰ ਅਤੇ ਸੰਤ੍ਰਿਪਤਾ ਖੇਤਰ ਨੂੰ ਪ੍ਰਤੀਬਿੰਬਤ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਪਰ ਇਹ ਖਾਸ ਮੁੱਲਾਂ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਬਾਰੰਬਾਰਤਾ ਅਤੇ ਗਤੀ ਨੂੰ ਨਹੀਂ ਮਾਪ ਸਕਦਾ ਹੈ।
2. ਇਸੇ ਤਰ੍ਹਾਂ, TTL ਡਿਜੀਟਲ ਚਿਪਸ ਲਈ, ਸਿਰਫ ਉੱਚ ਅਤੇ ਹੇਠਲੇ ਪੱਧਰਾਂ ਦੇ ਆਉਟਪੁੱਟ ਤਬਦੀਲੀਆਂ ਨੂੰ ਜਾਣਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਪਰ ਇਸਦੇ ਵਧਣ ਅਤੇ ਡਿੱਗਣ ਵਾਲੇ ਕਿਨਾਰਿਆਂ ਦੀ ਗਤੀ ਦਾ ਪਤਾ ਨਹੀਂ ਲਗਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।

4. ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਔਸਿਲੇਟਰ
1. ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸਿਰਫ਼ ਇੱਕ ਔਸਿਲੋਸਕੋਪ (ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਔਸਿਲੇਟਰ ਨੂੰ ਚਾਲੂ ਕਰਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ) ਜਾਂ ਇੱਕ ਬਾਰੰਬਾਰਤਾ ਮੀਟਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਜਾਂਚ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਇੱਕ ਮਲਟੀਮੀਟਰ ਨੂੰ ਮਾਪ ਲਈ ਨਹੀਂ ਵਰਤਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਨਹੀਂ ਤਾਂ ਸਿਰਫ਼ ਬਦਲੀ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ।
2. ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਔਸਿਲੇਟਰ ਦੇ ਆਮ ਨੁਕਸ ਹਨ: a. ਅੰਦਰੂਨੀ ਲੀਕੇਜ, ਬੀ. ਅੰਦਰੂਨੀ ਓਪਨ ਸਰਕਟ, c. ਵੇਰੀਏਬਲ ਬਾਰੰਬਾਰਤਾ ਵਿਵਹਾਰ, d. ਪੈਰੀਫਿਰਲ ਕਨੈਕਟਡ ਕੈਪਸੀਟਰਾਂ ਦਾ ਲੀਕ ਹੋਣਾ। ਇੱਥੇ ਲੀਕੇਜ ਦੇ ਵਰਤਾਰੇ ਨੂੰ ਦੇ VI ਕਰਵ ਦੁਆਰਾ ਮਾਪਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ .
3. ਪੂਰੇ ਬੋਰਡ ਟੈਸਟ ਵਿੱਚ ਦੋ ਨਿਰਣੇ ਦੇ ਤਰੀਕੇ ਵਰਤੇ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਨ: a. ਟੈਸਟ ਦੇ ਦੌਰਾਨ, ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਔਸਿਲੇਟਰ ਦੇ ਨੇੜੇ ਸੰਬੰਧਿਤ ਚਿਪਸ ਫੇਲ ਹੋ ਜਾਂਦੇ ਹਨ. ਬੀ. ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਔਸਿਲੇਟਰ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ ਕੋਈ ਹੋਰ ਨੁਕਸ ਪੁਆਇੰਟ ਨਹੀਂ ਲੱਭੇ ਹਨ।

4. ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਔਸੀਲੇਟਰਾਂ ਦੀਆਂ ਦੋ ਆਮ ਕਿਸਮਾਂ ਹਨ: a. ਦੋ ਪਿੰਨ. ਬੀ. ਚਾਰ ਪਿੰਨ, ਜਿਨ੍ਹਾਂ ਵਿੱਚੋਂ ਦੂਜੀ ਪਿੰਨ ਸੰਚਾਲਿਤ ਹੈ, ਅਤੇ ਧਿਆਨ ਆਪਣੀ ਮਰਜ਼ੀ ਨਾਲ ਸ਼ਾਰਟ-ਸਰਕਟ ਨਹੀਂ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਪੰਜ. ਨੁਕਸ ਦੇ ਵਰਤਾਰੇ ਦੀ ਵੰਡ 1. ਸਰਕਟ ਬੋਰਡ ਦੇ ਨੁਕਸਦਾਰ ਹਿੱਸਿਆਂ ਦੇ ਅਧੂਰੇ ਅੰਕੜੇ: 1) ਚਿੱਪ ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ 30%, 2) ਵੱਖਰੇ ਹਿੱਸਿਆਂ ਦਾ ਨੁਕਸਾਨ 30%,
3) ਵਾਇਰਿੰਗ ਦਾ 30% (ਪੀCB ਕੋਟੇਡ ਤਾਂਬੇ ਦੀ ਤਾਰ) ਟੁੱਟ ਗਈ ਹੈ, 4) ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਦਾ 10% ਨੁਕਸਾਨ ਜਾਂ ਗੁਆਚ ਗਿਆ ਹੈ (ਉੱਥੇ ਇੱਕ ਉੱਪਰ ਵੱਲ ਰੁਝਾਨ ਹੈ)।
2. ਉਪਰੋਕਤ ਤੋਂ ਇਹ ਦੇਖਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਕਿ ਜਦੋਂ ਮੁਰੰਮਤ ਕੀਤੇ ਜਾਣ ਵਾਲੇ ਸਰਕਟ ਬੋਰਡ ਦੇ ਕੁਨੈਕਸ਼ਨ ਅਤੇ ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਵਿੱਚ ਕੋਈ ਸਮੱਸਿਆ ਹੈ, ਅਤੇ ਕੋਈ ਵਧੀਆ ਬੋਰਡ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਇਸਦੇ ਕੁਨੈਕਸ਼ਨ ਤੋਂ ਜਾਣੂ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਅਤੇ ਅਸਲ ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ ਨਹੀਂ ਲੱਭ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਸੰਭਾਵਨਾ ਬੋਰਡ ਦੀ ਮੁਰੰਮਤ ਕਰਨਾ ਬਹੁਤ ਵਧੀਆ ਨਹੀਂ ਹੈ।