ପ୍ରୋଗ୍ରାମ୍ ସହିତ ଚିପ୍ |
1. EPROM ଚିପ୍ସ ସାଧାରଣତ damage କ୍ଷତି ପାଇଁ ଉପଯୁକ୍ତ ନୁହେଁ |କାରଣ ଏହି ପ୍ରକାରର ଚିପ୍ ପ୍ରୋଗ୍ରାମକୁ ଲିଭାଇବା ପାଇଁ ଅଲ୍ଟ୍ରାଟୋଇଲେଟ୍ ଆଲୋକ ଆବଶ୍ୟକ କରେ, ଏହା ପରୀକ୍ଷା ସମୟରେ ପ୍ରୋଗ୍ରାମକୁ କ୍ଷତି ପହ not ୍ଚାଇବ ନାହିଁ |ତଥାପି, ସେଠାରେ ସୂଚନା ଅଛି: ଚିପ୍ ତିଆରି କରିବା ପାଇଁ ବ୍ୟବହୃତ ସାମଗ୍ରୀ ହେତୁ, ସମୟ ଲଙ୍ଗ ହୋଇଯାଏ), ଯଦିଓ ଏହା ବ୍ୟବହୃତ ନହୁଏ, ଏହା ନଷ୍ଟ ହୋଇପାରେ (ମୁଖ୍ୟତ the ପ୍ରୋଗ୍ରାମକୁ ଦର୍ଶାଏ) |ତେଣୁ ଏହାକୁ ଯଥାସମ୍ଭବ ବ୍ୟାକଅପ୍ କରିବା ଆବଶ୍ୟକ |
2. EEPROM, SPROM, ଇତ୍ୟାଦି, ଏବଂ ବ୍ୟାଟେରୀ ସହିତ RAM ଚିପ୍ସ, ପ୍ରୋଗ୍ରାମକୁ ନଷ୍ଟ କରିବା ଅତି ସହଜ |ଏହିପରି ଚିପ୍ସ ବ୍ୟବହାର କରିବା ପରେ ପ୍ରୋଗ୍ରାମକୁ ନଷ୍ଟ କରିଦେବ କି ନାହିଁ |VI ବକ୍ର ସ୍କାନ୍ କରିବା ଏପର୍ଯ୍ୟନ୍ତ ଚୂଡାନ୍ତ ନୁହେଁ |ତଥାପି, ସହକର୍ମୀମାନେ ଯେତେବେଳେ ଆମେ ଏହି ପ୍ରକାରର ପରିସ୍ଥିତିର ସାମ୍ନା କରୁ, ସାବଧାନ ହେବା ଭଲ |ଲେଖକ ଅନେକ ପରୀକ୍ଷଣ କରିଛନ୍ତି, ଏବଂ ଏହାର ସମ୍ଭାବ୍ୟ କାରଣ ହେଉଛି: ରକ୍ଷଣାବେକ୍ଷଣ ଉପକରଣର ସେଲର ଲିକେଜ୍ (ଯେପରିକି ପରୀକ୍ଷକ, ଇଲେକ୍ଟ୍ରିକ୍ ସୋଲଡିଂ ଲୁହା ଇତ୍ୟାଦି) |
3. ସର୍କିଟ ବୋର୍ଡରେ ବ୍ୟାଟେରୀ ଥିବା ଚିପ୍ ପାଇଁ ଏହାକୁ ସହଜରେ ବୋର୍ଡରୁ ବାହାର କରନ୍ତୁ ନାହିଁ |
2. ସର୍କିଟ ପୁନ Res ସେଟ୍ କରନ୍ତୁ |
1. ଯେତେବେଳେ ମରାମତି ହେବାକୁ ଥିବା ସର୍କିଟ ବୋର୍ଡରେ ଏକ ବୃହତ-ଇଣ୍ଟିଗ୍ରେଟେଡ୍ ସର୍କିଟ୍ ଅଛି, ପୁନ et ସେଟ୍ ସମସ୍ୟା ପ୍ରତି ଧ୍ୟାନ ଦେବା ଉଚିତ |
2. ପରୀକ୍ଷା ପୂର୍ବରୁ, ଏହାକୁ ଡିଭାଇସରେ ରଖିବା, ବାରମ୍ବାର ମେସିନ୍ ଟର୍ନ୍ ଅନ୍ ଏବଂ ଅଫ୍ କରିବା ଏବଂ ଏହାକୁ ଚେଷ୍ଟା କରିବା ଭଲ |ଏବଂ ପୁନ et ସେଟ୍ ବଟନ୍ କୁ ଅନେକ ଥର ଦବାନ୍ତୁ |
3. କାର୍ଯ୍ୟ ଏବଂ ପାରାମିଟର ପରୀକ୍ଷା
୧।ଡିଭାଇସ୍ ଚିହ୍ନଟ କରିବା ସମୟରେ କେବଳ କଟ୍ ଅଫ୍ ଏରିଆ, ଏମ୍ପ୍ଲାଇଫେସନ୍ ଏରିଆ ଏବଂ ସାଚୁଚରେସନ୍ ଏରିଆ ପ୍ରତିଫଳିତ କରିପାରିବ |କିନ୍ତୁ ଏହା ନିର୍ଦ୍ଦିଷ୍ଟ ମୂଲ୍ୟ ଯେପରିକି ଅପରେଟିଂ ଫ୍ରିକ୍ୱେନ୍ସି ଏବଂ ସ୍ପିଡ୍ ମାପ କରିପାରିବ ନାହିଁ |
2. ସେହିପରି ଭାବରେ, TTL ଡିଜିଟାଲ୍ ଚିପ୍ସ ପାଇଁ କେବଳ ଉଚ୍ଚ ଏବଂ ନିମ୍ନ ସ୍ତରର ଆଉଟପୁଟ୍ ପରିବର୍ତ୍ତନ ଜଣା ପଡିପାରେ, କିନ୍ତୁ ଏହାର ବୃଦ୍ଧି ଏବଂ ପତନର ଗତି ଚିହ୍ନଟ ହୋଇପାରିବ ନାହିଁ |
4. କ୍ରିଷ୍ଟାଲ୍ ଓସିଲେଟର |
1. ସାଧାରଣତ only କେବଳ ଏକ ଓସିଲୋସ୍କୋପ୍ (ସ୍ଫଟିକ୍ ଓସିଲେଟର ଚାଳିତ ହେବା ଆବଶ୍ୟକ) କିମ୍ବା ପରୀକ୍ଷଣ ପାଇଁ ଏକ ଫ୍ରିକ୍ୱେନ୍ସି ମିଟର ବ୍ୟବହାର କରାଯାଇପାରିବ ଏବଂ ମାପ ପାଇଁ ଏକ ମଲ୍ଟିମିଟର ବ୍ୟବହାର କରାଯାଇପାରିବ ନାହିଁ, ନଚେତ୍ ପ୍ରତିସ୍ଥାପନ ପଦ୍ଧତି ବ୍ୟବହାର କରାଯାଇପାରିବ |
2. ସ୍ଫଟିକ୍ ଓସିଲେଟରର ସାଧାରଣ ତ୍ରୁଟିଗୁଡ଼ିକ ହେଉଛି: କ।ଆଭ୍ୟନ୍ତରୀଣ ଲିକେଜ୍, ଖ।ଆଭ୍ୟନ୍ତରୀଣ ଓପନ୍ ସର୍କିଟ୍, ଗ।ଭେରିଏବଲ୍ ଫ୍ରିକ୍ୱେନ୍ସି ବିଚ୍ଛିନ୍ନତା, d।ପେରିଫେରାଲ୍ ସଂଯୁକ୍ତ କ୍ୟାପେସିଟରଗୁଡ଼ିକର ଲିକେଜ୍ |ଏଠାରେ ଲିକେଜ୍ ଘଟଣାକୁ VI ବକ୍ର ଦ୍ୱାରା ମାପ କରାଯିବା ଉଚିତ୍ |।
3. ସମଗ୍ର ବୋର୍ଡ ପରୀକ୍ଷଣରେ ଦୁଇଟି ବିଚାର ପଦ୍ଧତି ବ୍ୟବହାର କରାଯାଇପାରିବ: କ।ପରୀକ୍ଷା ସମୟରେ, ସ୍ଫଟିକ୍ ଓସିଲେଟର ନିକଟରେ ଥିବା ଚିପ୍ସ ବିଫଳ ହୁଏ |ଖ।ସ୍ଫଟିକ୍ ଓସିଲେଟର ବ୍ୟତୀତ ଅନ୍ୟ କ ult ଣସି ତ୍ରୁଟି ବିନ୍ଦୁ ମିଳୁନାହିଁ |
4. ଦୁଇଟି ସାଧାରଣ ପ୍ରକାରର ସ୍ଫଟିକ୍ ଓସିଲେଟର ଅଛି: a।ଦୁଇଟି ପିନଖ।ଚାରୋଟି ପିନ୍, ଯେଉଁଥିରୁ ଦ୍ୱିତୀୟ ପିନ୍ ଚାଳିତ, ଏବଂ ଧ୍ୟାନ ଇଚ୍ଛାରେ ସ୍ୱଳ୍ପ ସର୍କିଟ୍ ହେବା ଉଚିତ୍ ନୁହେଁ |ପାଞ୍ଚତ୍ରୁଟି ଘଟଣାର ବଣ୍ଟନ 1. ସର୍କିଟ ବୋର୍ଡର ତ୍ରୁଟିପୂର୍ଣ୍ଣ ଅଂଶଗୁଡିକର ଅସମ୍ପୂର୍ଣ୍ଣ ପରିସଂଖ୍ୟାନ: 1) ଚିପ କ୍ଷତି 30%, 2) ପୃଥକ ଉପାଦାନଗୁଡିକ 30% କ୍ଷତି କରେ,
3) ତାରର 30% (P।CB ଆବୃତ ତମ୍ବା ତାର) ଭାଙ୍ଗିଗଲା, 4) ପ୍ରୋଗ୍ରାମର 10% ନଷ୍ଟ ହୋଇଗଲା କିମ୍ବା ହଜିଗଲା (ଏକ ଉପର ଧାରା ଅଛି) |
2. ଏହା ଉପରୋକ୍ତରୁ ଦେଖାଯାଏ ଯେ ଯେତେବେଳେ ମରାମତି ହେବାକୁ ଥିବା ସର୍କିଟ ବୋର୍ଡର ସଂଯୋଗ ଏବଂ ପ୍ରୋଗ୍ରାମରେ କ problem ଣସି ଅସୁବିଧା ହୁଏ, ଏବଂ ସେଠାରେ କ good ଣସି ଭଲ ବୋର୍ଡ ନାହିଁ, ଏହାର ସଂଯୋଗ ସହିତ ପରିଚିତ ନୁହେଁ, ଏବଂ ମୂଳ ପ୍ରୋଗ୍ରାମ, ସମ୍ଭାବନା ଖୋଜି ପାରିବ ନାହିଁ | ବୋର୍ଡ ମରାମତି କରିବା ବଡ଼ ନୁହେଁ |
ପୋଷ୍ଟ ସମୟ: ମାର୍ଚ -06-2023 |