1. Chip med program
1. EPROM-brikker er generelt ikke egnet for skade.Fordi denne typen brikke trenger ultrafiolett lys for å slette programmet, vil den ikke skade programmet under testen.Imidlertid er det informasjon: på grunn av materialet som brukes til å lage brikken, ettersom tiden går lang), selv om den ikke brukes, kan den bli skadet (refererer hovedsakelig til programmet).Så det er nødvendig å sikkerhetskopiere det så mye som mulig.
2. EEPROM, SPROM, etc., samt RAM-brikker med batterier, er veldig enkle å ødelegge programmet.Hvorvidt slike brikker vil ødelegge programmet etter bruk avå skanne VI-kurven er ennå ikke avgjørende.Men kolleger Når vi møter denne typen situasjoner, er det bedre å være forsiktig.Forfatteren har gjort mange eksperimenter, og den mest sannsynlige årsaken er: lekkasje av skallet til vedlikeholdsverktøyet (som tester, elektrisk loddebolt, etc.).
3. For brikken med batteri på kretskortet, ikke fjern den fra kortet lett.
2. Tilbakestill kretsen
1. Når det er en storstilt integrert krets på kretskortet som skal repareres, bør du være oppmerksom på tilbakestillingsproblemet.
2. Før testen er det best å sette den tilbake på enheten, slå på og av maskinen gjentatte ganger og prøve den.Og trykk på tilbakestillingsknappen flere ganger.
3. Funksjons- og parametertest
1.kan bare reflektere avskjæringsområdet, forsterkningsområdet og metningsområdet når enheten oppdages.Men den kan ikke måle de spesifikke verdiene som driftsfrekvens og hastighet.
2. På samme måte, for TTL digitale brikker, kan bare utgangsendringene for høye og lave nivåer være kjent, men hastigheten til dens stigende og fallende kanter kan ikke detekteres.
4. Krystalloscillator
1. Vanligvis kan bare et oscilloskop (krystalloscillatoren må slås på) eller en frekvensmåler brukes til testing, og et multimeter kan ikke brukes til måling, ellers kan substitusjonsmetoden kun brukes.
2. De vanlige feilene til krystalloscillatoren er: a.intern lekkasje, b.intern åpen krets, c.variabelt frekvensavvik, d.lekkasje av perifere tilkoblede kondensatorer.Lekkasjefenomenet her skal måles ved VI-kurven til.
3. To vurderingsmetoder kan brukes i hele styreprøven: a.Under testen mislykkes de relaterte brikkene nær krystalloscillatoren.b.Ingen andre feilpunkter er funnet bortsett fra krystalloscillatoren.
4. Det er to vanlige typer krystalloscillatorer: a.to pinner.b.fire pinner, hvorav den andre pinnen er drevet, og oppmerksomheten bør ikke kortsluttes etter ønske.Fem.Fordeling av feilfenomener 1. Ufullstendig statistikk over defekte deler av kretskortet: 1 ) brikkeskade 30 %, 2) diskrete komponenter skade 30 %,
3) 30 % av ledningene (sCB belagt kobbertråd) er ødelagt, 4) 10 % av programmet er skadet eller tapt (det er en oppadgående trend).
2. Det kan sees fra ovenstående at når det er et problem med tilkoblingen og programmet til kretskortet som skal repareres, og det ikke er noe godt kort, ikke kjent med tilkoblingen og ikke finner det originale programmet, er muligheten å reparere brettet er ikke bra.
Innleggstid: Mar-06-2023