1. Cip dengan program
1. Cip EPROM secara amnya tidak sesuai untuk kerosakan.Oleh kerana cip jenis ini memerlukan cahaya ultraviolet untuk memadamkan program, ia tidak akan merosakkan program semasa ujian.Walau bagaimanapun, terdapat maklumat: disebabkan oleh bahan yang digunakan untuk membuat cip, seiring dengan berlalunya masa yang panjang), walaupun ia tidak digunakan, ia mungkin rosak (terutamanya merujuk kepada program).Jadi adalah perlu untuk menyandarkannya sebanyak mungkin.
2. EEPROM, SPROM, dll., serta cip RAM dengan bateri, sangat mudah untuk memusnahkan program.Sama ada cip tersebut akan memusnahkan program selepas menggunakanuntuk mengimbas keluk VI masih belum muktamad.Walau bagaimanapun, rakan sekerja Apabila kita menghadapi situasi seperti ini, adalah lebih baik untuk berhati-hati.Penulis telah melakukan banyak eksperimen, dan kemungkinan besar sebabnya ialah: kebocoran cangkerang alat penyelenggaraan (seperti penguji, besi pematerian elektrik, dll.).
3. Untuk cip dengan bateri pada papan litar, jangan keluarkannya dari papan dengan mudah.
2. Tetapkan semula litar
1. Apabila terdapat litar bersepadu berskala besar pada papan litar untuk dibaiki, perhatian harus diberikan kepada masalah set semula.
2. Sebelum ujian, sebaiknya letak semula pada peranti, hidupkan dan matikan mesin berulang kali dan cuba.Dan tekan butang set semula beberapa kali.
3. Ujian fungsi dan parameter
1.hanya boleh mencerminkan kawasan potong, kawasan amplifikasi dan kawasan tepu apabila mengesan peranti.Tetapi ia tidak dapat mengukur nilai khusus seperti kekerapan operasi dan kelajuan.
2. Dengan cara yang sama, untuk cip digital TTL, hanya perubahan output tahap tinggi dan rendah boleh diketahui, tetapi kelajuan tepi naik dan turunnya tidak dapat dikesan.
4. Pengayun kristal
1. Biasanya hanya osiloskop (pengayun kristal perlu dihidupkan) atau meter frekuensi boleh digunakan untuk ujian, dan multimeter tidak boleh digunakan untuk pengukuran, jika tidak kaedah penggantian hanya boleh digunakan.
2. Kerosakan biasa pengayun kristal ialah: a.kebocoran dalaman, b.litar terbuka dalaman, c.sisihan frekuensi berubah-ubah, d.kebocoran kapasitor bersambung persisian.Fenomena kebocoran di sini harus diukur dengan keluk VI bagi.
3. Dua kaedah penghakiman boleh digunakan dalam keseluruhan ujian papan: a.Semasa ujian, cip berkaitan berhampiran pengayun kristal gagal.b.Tiada titik kerosakan lain ditemui kecuali pengayun kristal.
4. Terdapat dua jenis pengayun kristal yang biasa: a.dua pin.b.empat pin, yang mana pin kedua dikuasakan, dan perhatian tidak boleh dilitar pintas sesuka hati.lima.Taburan fenomena kerosakan 1. Perangkaan tidak lengkap bahagian papan litar yang rosak: 1) kerosakan cip 30%, 2) kerosakan komponen diskret 30%,
3) 30% daripada pendawaian (PCB wayar kuprum bersalut) rosak, 4) 10% program rosak atau hilang (ada trend menaik).
2. Dapat dilihat dari atas bahawa apabila terdapat masalah dengan sambungan dan program papan litar untuk dibaiki, dan tidak ada papan yang baik, tidak biasa dengan sambungannya, dan tidak dapat mencari program asal, kemungkinan membaiki papan tidak bagus.
Masa siaran: Mac-06-2023