1. Програмтай чип
1. EPROM чип нь ерөнхийдөө гэмтэлд тохиромжгүй байдаг.Энэ төрлийн чип нь програмыг устгахын тулд хэт ягаан туяа шаарддаг тул туршилтын явцад програмыг гэмтээхгүй.Гэсэн хэдий ч мэдээлэл байдаг: чипийг хийхэд ашигласан материалаас болж, цаг хугацаа өнгөрөх тусам, энэ нь ашиглаагүй байсан ч гэмтсэн байж болзошгүй (голчлон програмыг хэлнэ).Тиймээс аль болох нөөцлөх шаардлагатай.
2. EEPROM, SPROM гэх мэт батерейтай RAM чипүүд нь програмыг устгахад маш хялбар байдаг.Ийм чип нь програмыг ашигласны дараа устгах эсэхVI муруйг сканнердах нь хараахан шийдэгдээгүй байна.Гэсэн хэдий ч, хамт олон Бид ийм нөхцөл байдалтай тулгарвал болгоомжтой байх нь дээр.Зохиогч олон туршилт хийсэн бөгөөд хамгийн их магадлалтай шалтгаан нь: засвар үйлчилгээний хэрэгслийн бүрхүүл (шалгагч, цахилгаан гагнуур гэх мэт) гоожиж байна.
3. Хэлхээний самбар дээрх зайтай чипийг самбараас амархан салгаж болохгүй.
2. Хэлхээг дахин тохируулах
1. Засвар хийх хэлхээний самбар дээр том хэмжээний нэгдсэн схем байгаа тохиолдолд дахин тохируулах асуудалд анхаарлаа хандуулах хэрэгтэй.
2. Туршилтын өмнө төхөөрөмжид буцааж тавьж, дахин дахин асааж, унтрааж, туршиж үзэх нь дээр.Мөн дахин тохируулах товчийг хэд хэдэн удаа дар.
3. Функц ба параметрийн туршилт
1.төхөөрөмжийг илрүүлэх үед зөвхөн таслагдах хэсэг, олшруулах хэсэг, ханасан хэсгийг тусгах боломжтой.Гэхдээ энэ нь ажлын давтамж, хурд гэх мэт тодорхой утгыг хэмжиж чадахгүй.
2. Үүний нэгэн адил TTL дижитал чипүүдийн хувьд зөвхөн өндөр ба доод түвшний гаралтын өөрчлөлтийг мэдэж болох боловч түүний өсөх, унах ирмэгийн хурдыг илрүүлэх боломжгүй юм.
4. Кристал осциллятор
1. Ихэвчлэн осциллограф (болор осцилляторыг асаах шаардлагатай) эсвэл давтамж хэмжигчийг туршилтанд ашиглаж болох ба мультиметрийг хэмжихэд ашиглах боломжгүй, өөрөөр хэлбэл зөвхөн орлуулах аргыг ашиглах боломжтой.
2. Кристал осцилляторын нийтлэг гэмтэл нь: a.дотоод гоожих, b.дотоод нээлттэй хэлхээ, c.хувьсах давтамжийн хазайлт, d.захын холбогдсон конденсаторын алдагдал.Энд байгаа гоожих үзэгдлийг VI муруйгаар хэмжих ёстой.
3. Бүхэл бүтэн самбарын шалгалтанд дүгнэлт хийх хоёр аргыг ашиглаж болно: a.Туршилтын явцад болор осцилляторын ойролцоох холбогдох чипүүд амжилтгүй болсон.б.Кристал осциллятороос өөр гэмтлийн цэг олдсонгүй.
4. Кристал осцилляторын нийтлэг хоёр төрөл байдаг: a.хоёр зүү.б.дөрвөн тээглүүр, үүнээс хоёр дахь зүү нь тэжээгддэг бөгөөд анхаарал татахуйц дур зоргоороо богино холболт хийх ёсгүй.Тав.Гэмтлийн үзэгдлийн хуваарилалт 1. Хэлхээний самбарын гэмтэлтэй хэсгүүдийн бүрэн бус статистик: 1 ) чипийн гэмтэл 30%, 2) салангид бүрэлдэхүүн хэсгүүдийн гэмтэл 30%,
3) утаснуудын 30% (PCB бүрсэн зэс утас) эвдэрсэн, 4) Програмын 10% нь гэмтсэн эсвэл алдагдсан (өсөх хандлагатай).
2. Засвар хийх хэлхээний самбарын холболт, программ хангамжид гэмтэл гарч, сайн хавтан байхгүй, холболтыг нь сайн мэдэхгүй, анхны программыг нь олж чадахгүй бол боломж байгааг дээрхээс харж болно. самбарыг засах нь тийм ч сайн биш юм.
Шуудангийн цаг: 2023-03-06