ການກວດກາແລະການສ້ອມແປງ PCB

1. ຊິບກັບໂປຣແກຣມ
1. ຊິບ EPROM ໂດຍທົ່ວໄປແມ່ນບໍ່ເຫມາະສົມສໍາລັບຄວາມເສຍຫາຍ. ເນື່ອງຈາກວ່າຊິບປະເພດນີ້ຕ້ອງການແສງ ultraviolet ເພື່ອລົບລ້າງໂຄງການ, ມັນຈະບໍ່ທໍາລາຍໂຄງການໃນລະຫວ່າງການທົດສອບ. ແນວ​ໃດ​ກໍ​ຕາມ​, ມີ​ຂໍ້​ມູນ​: ເນື່ອງ​ຈາກ​ອຸ​ປະ​ກອນ​ການ​ນໍາ​ໃຊ້​ເພື່ອ​ເຮັດ​ໃຫ້​ຊິບ​, ເປັນ​ເວ​ລາ​ທີ່​ຍາວ​)​, ເຖິງ​ແມ່ນ​ວ່າ​ມັນ​ບໍ່​ໄດ້​ຖືກ​ນໍາ​ໃຊ້​, ມັນ​ອາດ​ຈະ​ຖືກ​ເສຍ​ຫາຍ (ສ່ວນ​ໃຫຍ່​ແມ່ນ​ຫມາຍ​ເຖິງ​ໂຄງ​ການ​)​. ດັ່ງນັ້ນ, ມັນເປັນສິ່ງຈໍາເປັນທີ່ຈະສໍາຮອງຂໍ້ມູນຫຼາຍເທົ່າທີ່ເປັນໄປໄດ້.
2. EEPROM, SPROM, ແລະອື່ນໆ, ເຊັ່ນດຽວກັນກັບຊິບ RAM ກັບຫມໍ້ໄຟ, ແມ່ນງ່າຍຫຼາຍທີ່ຈະທໍາລາຍໂຄງການ. ບໍ່ວ່າຊິບດັ່ງກ່າວຈະທໍາລາຍໂຄງການຫຼັງຈາກການນໍາໃຊ້ ການສະແກນເສັ້ນໂຄ້ງ VI ແມ່ນຍັງບໍ່ທັນສະຫຼຸບໄດ້. ແນວໃດກໍ່ຕາມ, ເພື່ອນຮ່ວມງານເມື່ອເຮົາພົບສະຖານະການແບບນີ້ຄວນລະວັງກັນດີກວ່າ. ຜູ້ຂຽນໄດ້ເຮັດການທົດລອງຫຼາຍຢ່າງ, ແລະເຫດຜົນຫຼາຍທີ່ສຸດແມ່ນ: ການຮົ່ວໄຫຼຂອງແກະຂອງເຄື່ອງມືບໍາລຸງຮັກສາ (ເຊັ່ນ: ເຄື່ອງທົດສອບ, ເຫຼັກ soldering ໄຟຟ້າ, ແລະອື່ນໆ).
3. ສໍາລັບຊິບທີ່ມີແບດເຕີລີ່ຢູ່ໃນກະດານວົງຈອນ, ຢ່າເອົາມັນອອກຈາກກະດານໄດ້ງ່າຍ.

2. ຣີເຊັດວົງຈອນ
1. ເມື່ອມີວົງຈອນປະສົມປະສານຂະຫນາດໃຫຍ່ຢູ່ໃນກະດານວົງຈອນທີ່ຈະສ້ອມແປງ, ຄວນເອົາໃຈໃສ່ກັບບັນຫາການຕັ້ງໃຫມ່.
2. ກ່ອນທີ່ຈະທົດສອບ, ມັນດີທີ່ສຸດທີ່ຈະເອົາມັນກັບຄືນໄປບ່ອນຢູ່ໃນອຸປະກອນ, ເປີດແລະປິດເຄື່ອງຊ້ໍາອີກຄັ້ງແລະພະຍາຍາມມັນ. ແລະກົດປຸ່ມ reset ຫຼາຍຄັ້ງ.

3. ການທົດສອບຫນ້າທີ່ແລະພາລາມິເຕີ
1. ສາມາດສະທ້ອນພຽງແຕ່ພື້ນທີ່ຕັດ, ພື້ນທີ່ຂະຫຍາຍແລະພື້ນທີ່ການອີ່ມຕົວໃນເວລາທີ່ກວດພົບອຸປະກອນ. ແຕ່ມັນບໍ່ສາມາດວັດແທກຄ່າສະເພາະເຊັ່ນ: ຄວາມຖີ່ຂອງການໃຊ້ງານ ແລະຄວາມໄວ.
2. ໃນທາງດຽວກັນ, ສໍາລັບຊິບດິຈິຕອນ TTL, ພຽງແຕ່ການປ່ຽນແປງຜົນຜະລິດຂອງລະດັບສູງແລະຕ່ໍາສາມາດຮູ້ໄດ້, ແຕ່ຄວາມໄວຂອງການເພີ່ມຂຶ້ນແລະຫຼຸດລົງຂອງແຄມບໍ່ສາມາດກວດພົບໄດ້.

4. Crystal oscillator
1. ປົກກະຕິແລ້ວພຽງແຕ່ oscilloscope (ການ oscillator crystal ຈໍາເປັນຕ້ອງໄດ້ເປີດ) ຫຼືເຄື່ອງວັດແທກຄວາມຖີ່ສາມາດໄດ້ຮັບການນໍາໃຊ້ສໍາລັບການທົດສອບ, ແລະ multimeter ບໍ່ສາມາດຖືກນໍາໃຊ້ສໍາລັບການວັດແທກ, ຖ້າບໍ່ດັ່ງນັ້ນວິທີການທົດແທນພຽງແຕ່ສາມາດໃຊ້ໄດ້.
2. ຄວາມຜິດທົ່ວໄປຂອງ crystal oscillator ແມ່ນ: a. ການຮົ່ວໄຫຼພາຍໃນ, ຂ. ວົງຈອນເປີດພາຍໃນ, ຄ. deviation ຄວາມຖີ່ຂອງການປ່ຽນແປງ, d. ການຮົ່ວໄຫຼຂອງ capacitor ເຊື່ອມຕໍ່ peripheral. ປະກົດການຮົ່ວໄຫຼຢູ່ທີ່ນີ້ຄວນໄດ້ຮັບການວັດແທກໂດຍເສັ້ນໂຄ້ງ VI ຂອງ .
3. ວິທີການຕັດສິນສອງວິທີສາມາດຖືກນໍາໃຊ້ໃນການທົດສອບຄະນະກໍາມະການທັງຫມົດ: ກ. ໃນລະຫວ່າງການທົດສອບ, ຊິບທີ່ກ່ຽວຂ້ອງຢູ່ໃກ້ກັບ crystal oscillator ລົ້ມເຫລວ. ຂ. ບໍ່ພົບຈຸດບົກຜ່ອງອື່ນ ຍົກເວັ້ນການສັ່ນສະເທືອນໄປເຊຍກັນ.

4. ມີ 2 ປະເພດທົ່ວໄປຂອງ crystal oscillators: a. ສອງ pins. ຂ. ສີ່ pins, ເຊິ່ງ pin ທີສອງແມ່ນພະລັງງານ, ແລະຄວາມສົນໃຈບໍ່ຄວນຈະຖືກ short-circuited ຕາມຄວາມຢາກ. ຫ້າ. ການແຜ່ກະຈາຍຂອງປະກົດການຄວາມຜິດ 1. ສະຖິຕິບໍ່ຄົບຖ້ວນຂອງພາກສ່ວນ faulty ຂອງຄະນະວົງຈອນ: 1) ຄວາມເສຍຫາຍ chip 30%, 2) ອົງປະກອບ discrete ເສຍຫາຍ 30%,
3) 30% ຂອງສາຍໄຟ (ປCB coated copper wire) ຫັກ, 4) 10% ຂອງໂຄງການເສຍຫາຍຫຼືສູນເສຍ (ມີແນວໂນ້ມເພີ່ມຂຶ້ນ).
2. ເຫັນໄດ້ຈາກຂ້າງເທິງວ່າເມື່ອມີບັນຫາກັບການເຊື່ອມຕໍ່ ແລະ ໂປຣແກມຂອງແຜງວົງຈອນທີ່ຕ້ອງສ້ອມແປງ, ບໍ່ມີກະດານທີ່ດີ, ບໍ່ຄຸ້ນເຄີຍກັບການເຊື່ອມຕໍ່ຂອງມັນ, ແລະບໍ່ສາມາດຊອກຫາໂປຼແກຼມຕົ້ນສະບັບໄດ້, ຄວາມເປັນໄປໄດ້. ການສ້ອມແປງກະດານແມ່ນບໍ່ດີ.