1. Chip karo program
1. Kripik EPROM umume ora cocok kanggo karusakan.Amarga jenis chip iki mbutuhake sinar ultraviolet kanggo mbusak program kasebut, mula ora bakal ngrusak program sajrone tes.Nanging, ana informasi: amarga materi sing digunakake kanggo nggawe chip, minangka wektu liwat Long), sanajan ora digunakake, bisa uga rusak (utamane nuduhake program).Dadi perlu kanggo gawe serep sabisane.
2. EEPROM, SPROM, etc., uga Kripik RAM karo batre, gampang banget kanggo numpes program.Apa Kripik kuwi bakal numpes program sawise nggunakakekanggo mindai kurva VI durung conclusive.Nanging, kolega Nalika kita nemoni kahanan kaya iki, luwih becik ngati-ati.Penulis wis nindakake akeh eksperimen, lan alasan sing paling mungkin yaiku: kebocoran cangkang alat pangopènan (kayata tester, wesi soldering listrik, lan liya-liyane).
3. Kanggo chip karo baterei ing Papan sirkuit, ora mbusak saka Papan gampang.
2. Reset sirkuit
1. Nalika ana sirkuit terpadu skala gedhe ing papan sirkuit kanggo didandani, manungsa waé kudu mbayar kanggo masalah reset.
2. Sadurunge test, iku paling apik kanggo sijine maneh ing piranti, nguripake lan mateni mesin bola-bali lan nyoba.Lan pencet tombol reset kaping pirang-pirang.
3. Tes fungsi lan parameter
1.mung bisa nggambarake area potong, area amplifikasi lan area jenuh nalika ndeteksi piranti.Nanging ora bisa ngukur nilai tartamtu kayata frekuensi operasi lan kacepetan.
2. Ing cara sing padha, kanggo Kripik digital TTL, mung owah-owahan output saka tingkat dhuwur lan kurang bisa dikenal, nanging kacepetan munggah lan Mudhun pinggiran ora bisa dideteksi.
4. Crystal osilator
1. Biasane mung oscilloscope (osilator kristal kudu diuripake) utawa meter frekuensi bisa digunakake kanggo testing, lan multimeter ora bisa digunakake kanggo pangukuran, digunakake cara substitusi mung bisa digunakake.
2. Kesalahan umum saka osilator kristal yaiku: a.bocor internal, b.sirkuit mbukak internal, c.panyimpangan frekuensi variabel, d.bocor saka kapasitor disambungake periferal.Fenomena bocor ing kene kudu diukur kanthi kurva VI saka.
3. Rong cara pangadilan bisa digunakake ing kabeh test Papan: a.Sajrone tes, chip sing ana gandhengane ing cedhak osilator kristal gagal.b.Ora ana titik kesalahan liyane sing ditemokake kajaba osilator kristal.
4. Ana rong jinis umum osilator kristal: a.loro pin.b.papat lencana, kang pin kapindho powered, lan manungsa waé ngirim ora short-circuited ing bakal.gangsal.Distribusi fenomena fault 1. Statistik sing ora lengkap babagan bagian papan sirkuit sing rusak: 1) karusakan chip 30%, 2) karusakan komponen diskrit 30%,
3) 30% saka kabel (PCB kabel tembaga ditutupi) rusak, 4) 10% saka program rusak utawa ilang (ana gaya munggah).
2. Bisa dideleng saka ndhuwur yen ana masalah karo sambungan lan program saka papan sirkuit kanggo didandani, lan ora ana papan apik, ora menowo sambungan, lan ora bisa nemokake program asli, kamungkinan. saka ndandani Papan ora gedhe.
wektu Post: Mar-06-2023