પીસીબીનું નિરીક્ષણ અને સમારકામ

1. પ્રોગ્રામ સાથે ચિપ
1. EPROM ચિપ્સ સામાન્ય રીતે નુકસાન માટે યોગ્ય નથી.કારણ કે આ પ્રકારની ચિપને પ્રોગ્રામને ભૂંસી નાખવા માટે અલ્ટ્રાવાયોલેટ પ્રકાશની જરૂર છે, તે પરીક્ષણ દરમિયાન પ્રોગ્રામને નુકસાન કરશે નહીં.જો કે, ત્યાં માહિતી છે: ચિપ બનાવવા માટે વપરાતી સામગ્રીને લીધે, જેમ જેમ સમય પસાર થાય છે, તેમ છતાં તેનો ઉપયોગ ન કરવામાં આવે તો પણ તે નુકસાન થઈ શકે છે (મુખ્યત્વે પ્રોગ્રામનો સંદર્ભ આપે છે).તેથી શક્ય તેટલું તેનો બેકઅપ લેવો જરૂરી છે.
2. EEPROM, SPROM, વગેરે, તેમજ બેટરી સાથેની RAM ચિપ્સ, પ્રોગ્રામનો નાશ કરવા માટે ખૂબ જ સરળ છે.શું આવી ચિપ્સનો ઉપયોગ કર્યા પછી પ્રોગ્રામનો નાશ કરશેVI વળાંકને સ્કેન કરવું હજી નિર્ણાયક નથી.જો કે, સાથીદારો જ્યારે આપણે આ પ્રકારની પરિસ્થિતિનો સામનો કરીએ છીએ, ત્યારે સાવચેત રહેવું વધુ સારું છે.લેખકે ઘણા પ્રયોગો કર્યા છે, અને સૌથી સંભવિત કારણ છે: જાળવણી સાધન (જેમ કે ટેસ્ટર, ઇલેક્ટ્રિક સોલ્ડરિંગ આયર્ન, વગેરે) ના શેલનું લીકેજ.
3. સર્કિટ બોર્ડ પર બેટરી સાથેની ચિપ માટે, તેને બોર્ડમાંથી સરળતાથી દૂર કરશો નહીં.

2. સર્કિટ રીસેટ કરો
1. જ્યારે સમારકામ કરવા માટે સર્કિટ બોર્ડ પર મોટા પાયે એકીકૃત સર્કિટ હોય, ત્યારે રીસેટ સમસ્યા પર ધ્યાન આપવું જોઈએ.
2. પરીક્ષણ પહેલાં, તેને ઉપકરણ પર પાછું મૂકવું શ્રેષ્ઠ છે, મશીનને વારંવાર ચાલુ અને બંધ કરો અને તેનો પ્રયાસ કરો.અને રીસેટ બટનને ઘણી વખત દબાવો.

3. કાર્ય અને પરિમાણ પરીક્ષણ
1.ઉપકરણને શોધતી વખતે માત્ર કટ-ઓફ વિસ્તાર, એમ્પ્લીફિકેશન વિસ્તાર અને સંતૃપ્તિ વિસ્તારને પ્રતિબિંબિત કરી શકે છે.પરંતુ તે ચોક્કસ મૂલ્યો જેમ કે ઓપરેટિંગ આવર્તન અને ઝડપને માપી શકતું નથી.
2. એ જ રીતે, TTL ડિજિટલ ચિપ્સ માટે, માત્ર ઉચ્ચ અને નીચલા સ્તરના આઉટપુટ ફેરફારો જાણી શકાય છે, પરંતુ તેની વધતી અને પડતી ધારની ઝડપ શોધી શકાતી નથી.

4. ક્રિસ્ટલ ઓસિલેટર
1. સામાન્ય રીતે માત્ર ઓસિલોસ્કોપ (ક્રિસ્ટલ ઓસીલેટરને ચાલુ કરવાની જરૂર છે) અથવા ફ્રિકવન્સી મીટરનો ઉપયોગ પરીક્ષણ માટે કરી શકાય છે, અને માપન માટે મલ્ટિમીટરનો ઉપયોગ કરી શકાતો નથી, અન્યથા માત્ર અવેજી પદ્ધતિનો ઉપયોગ કરી શકાય છે.
2. ક્રિસ્ટલ ઓસિલેટરના સામાન્ય ખામીઓ છે: a.આંતરિક લિકેજ, બી.આંતરિક ઓપન સર્કિટ, c.ચલ આવર્તન વિચલન, ડી.પેરિફેરલ કનેક્ટેડ કેપેસિટરનું લિકેજ.અહીં લિકેજની ઘટનાને ના VI વળાંક દ્વારા માપવામાં આવવી જોઈએ.
3. સમગ્ર બોર્ડ કસોટીમાં બે નિર્ણય પદ્ધતિઓનો ઉપયોગ કરી શકાય છે: a.પરીક્ષણ દરમિયાન, ક્રિસ્ટલ ઓસિલેટરની નજીક સંબંધિત ચિપ્સ નિષ્ફળ જાય છે.bક્રિસ્ટલ ઓસિલેટર સિવાય અન્ય કોઈ ફોલ્ટ પોઈન્ટ જોવા મળતા નથી.

4. બે સામાન્ય પ્રકારના ક્રિસ્ટલ ઓસિલેટર છે: a.બે પિન.bચાર પિન, જેમાંથી બીજી પિન સંચાલિત છે, અને ધ્યાન ઇચ્છા મુજબ શોર્ટ-સર્કિટ ન હોવું જોઈએ.પાંચ.ખામીની ઘટનાનું વિતરણ 1. સર્કિટ બોર્ડના ખામીયુક્ત ભાગોના અપૂર્ણ આંકડા: 1) ચિપને નુકસાન 30%, 2) અલગ ઘટકોને નુકસાન 30%,
3) વાયરિંગનો 30% (પીCB કોટેડ કોપર વાયર) તૂટી ગયો છે, 4) પ્રોગ્રામનો 10% ક્ષતિગ્રસ્ત અથવા ખોવાઈ ગયો છે (ત્યાં ઉપરનું વલણ છે).
2. ઉપરોક્ત પરથી જોઈ શકાય છે કે જ્યારે સમારકામ કરવાના સર્કિટ બોર્ડના કનેક્શન અને પ્રોગ્રામમાં કોઈ સમસ્યા હોય, અને ત્યાં કોઈ સારું બોર્ડ ન હોય, તેના કનેક્શનથી પરિચિત ન હોય, અને મૂળ પ્રોગ્રામ શોધી શકતા ન હોય, ત્યારે શક્યતા બોર્ડનું સમારકામ મહાન નથી.