Inspection et réparation de PCB

1. Puce avec programme
1. Les puces EPROM ne sont généralement pas adaptées aux dommages. Étant donné que ce type de puce a besoin de lumière ultraviolette pour effacer le programme, cela n'endommagera pas le programme pendant le test. Cependant, il y a une information : en raison du matériau utilisé pour fabriquer la puce, au fil du temps, même si elle n'est pas utilisée, elle peut être endommagée (se réfère principalement au programme). Il est donc nécessaire de le sauvegarder autant que possible.
2. EEPROM, SPROM, etc., ainsi que les puces RAM avec piles, sont très faciles à détruire le programme. Si de telles puces détruiront le programme après avoir utilisé le scanner la courbe VI n’est pas encore concluant. Cependant, chers collègues, lorsque nous rencontrons ce genre de situation, il vaut mieux être prudent. L'auteur a fait de nombreuses expériences, et la raison la plus probable est : la fuite de la coque de l'outil de maintenance (comme un testeur, un fer à souder électrique, etc.).
3. Pour la puce avec batterie sur le circuit imprimé, ne la retirez pas facilement du circuit imprimé.

2. Réinitialiser le circuit
1. Lorsqu'il y a un circuit intégré à grande échelle sur la carte à réparer, il convient de prêter attention au problème de réinitialisation.
2. Avant le test, il est préférable de le remettre sur l'appareil, d'allumer et d'éteindre la machine à plusieurs reprises et de l'essayer. Et appuyez plusieurs fois sur le bouton de réinitialisation.

3. Test de fonction et de paramètres
1. Ne peut refléter que la zone de coupure, la zone d'amplification et la zone de saturation lors de la détection de l'appareil. Mais il ne peut pas mesurer les valeurs spécifiques telles que la fréquence de fonctionnement et la vitesse.
2. De la même manière, pour les puces numériques TTL, seuls les changements de sortie des niveaux haut et bas peuvent être connus, mais la vitesse de ses fronts montants et descendants ne peut pas être détectée.

4. Oscillateur à cristal
1. Habituellement, seul un oscilloscope (l'oscillateur à cristal doit être allumé) ou un fréquencemètre peut être utilisé pour les tests, et un multimètre ne peut pas être utilisé pour la mesure, sinon la méthode de substitution ne peut être utilisée.
2. Les défauts courants de l'oscillateur à cristal sont : a. fuite interne, b. circuit ouvert interne, c. déviation de fréquence variable, d. fuite des condensateurs périphériques connectés. Le phénomène de fuite doit ici être mesuré par la courbe VI de .
3. Deux méthodes de jugement peuvent être utilisées lors du test de l'ensemble du jury : a. Pendant le test, les puces associées proches de l'oscillateur à cristal échouent. b. Aucun autre point de défaut n'est trouvé à l'exception de l'oscillateur à cristal.

4. Il existe deux types courants d'oscillateurs à cristal : a. deux épingles. b. quatre broches, dont la deuxième broche est alimentée, et attention à ne pas être court-circuité à volonté. Cinq. Répartition des phénomènes de défauts 1. Statistiques incomplètes des parties défectueuses du circuit imprimé : 1) dommages aux puces 30 %, 2) dommages aux composants discrets 30 %,
3) 30% du câblage (PCB fil de cuivre recouvert) est cassé, 4) 10 % du programme est endommagé ou perdu (il y a une tendance à la hausse).
2. Il ressort de ce qui précède que lorsqu'il y a un problème avec la connexion et le programme de la carte de circuit imprimé à réparer, et qu'il n'y a pas de bonne carte, pas familier avec sa connexion, et ne peut pas trouver le programme d'origine, la possibilité de réparer la planche n'est pas génial.