1. Chip med program
1. EPROM-chips er generelt ikke egnede til beskadigelse.Fordi denne slags chip har brug for ultraviolet lys for at slette programmet, vil den ikke beskadige programmet under testen.Der er dog information: på grund af det materiale, der bruges til at fremstille chippen, efterhånden som tiden går Langt), selvom den ikke bruges, kan den blive beskadiget (henviser hovedsageligt til programmet).Så det er nødvendigt at bakke så meget op som muligt.
2. EEPROM, SPROM osv., samt RAM-chips med batterier, er meget nemme at ødelægge programmet.Om sådanne chips vil ødelægge programmet efter brug afat scanne VI-kurven er endnu ikke afgørende.Men kolleger Når vi støder på den slags situationer, er det bedre at være forsigtig.Forfatteren har lavet mange eksperimenter, og den mest sandsynlige årsag er: lækage af skallen på vedligeholdelsesværktøjet (såsom tester, elektrisk loddekolbe osv.).
3. For chippen med batteri på printkortet skal det ikke nemt fjernes fra printkortet.
2. Nulstil kredsløb
1. Når der er et integreret kredsløb i stor skala på printkortet, der skal repareres, skal man være opmærksom på nulstillingsproblemet.
2. Før testen er det bedst at sætte det tilbage på enheden, tænde og slukke for maskinen gentagne gange og prøve det.Og tryk på nulstillingsknappen flere gange.
3. Funktions- og parametertest
1.kan kun afspejle afskæringsområdet, forstærkningsområdet og mætningsområdet, når enheden detekteres.Men den kan ikke måle de specifikke værdier såsom driftsfrekvensen og hastigheden.
2. På samme måde, for TTL digitale chips, kan kun udgangsændringerne af høje og lave niveauer kendes, men hastigheden af dens stigende og faldende kanter kan ikke detekteres.
4. Krystaloscillator
1. Normalt kan kun et oscilloskop (krystaloscillatoren skal være tændt) eller en frekvensmåler bruges til test, og et multimeter kan ikke bruges til måling, ellers kan substitutionsmetoden kun bruges.
2. Krystaloscillatorens almindelige fejl er: a.intern lækage, b.internt åbent kredsløb, c.variabel frekvensafvigelse, d.lækage af perifere tilsluttede kondensatorer.Lækagefænomenet her skal måles ved VI-kurven på.
3. To bedømmelsesmetoder kan anvendes i hele tavleprøven: a.Under testen svigter de relaterede chips nær krystaloscillatoren.b.Ingen andre fejlpunkter er fundet undtagen krystaloscillatoren.
4. Der er to almindelige typer af krystaloscillatorer: a.to stifter.b.fire stifter, hvoraf den anden stift er drevet, og opmærksomheden bør ikke kortsluttes efter behag.Fem.Fordeling af fejlfænomener 1. Ufuldstændig statistik over defekte dele af printpladen: 1 ) chipskade 30 %, 2) diskrete komponenter beskadigelse 30 %,
3) 30 % af ledningerne (sCB belagt kobbertråd) er knækket, 4) 10 % af programmet er beskadiget eller tabt (der er en opadgående tendens).
2. Det kan ses af ovenstående, at når der er et problem med tilslutningen og programmet på det printkort, der skal repareres, og der ikke er et godt kort, ikke er bekendt med dets tilslutning, og ikke kan finde det originale program, er muligheden at reparere brættet er ikke fantastisk.
Posttid: Mar-06-2023