Ispezione è riparazione di PCB

1. Chip cù u prugramma
1. Chips EPROM sò generalmente micca adattati per danni. Perchè stu tipu di chip hà bisognu di luce ultravioletta per sguassà u prugramma, ùn dannu micca u prugramma durante a prova. In ogni casu, ci hè infurmazione: per via di u materiale utilizatu per fà u chip, cum'è u tempu passa da Long), ancu s'ellu ùn hè micca usatu, pò esse dannatu (principalmente si riferisce à u prugramma). Dunque hè necessariu di fà una copia di salvezza quant'è pussibule.
2. EEPROM, SPROM, etc., è ancu chips RAM cù batterie, sò assai faciuli di distrughje u prugramma. Sia tali chips distrughjenu u prugramma dopu avè usatu per scansà a curva VI ùn hè ancu cunclusiva. Tuttavia, i culleghi Quandu avemu scontru stu tipu di situazione, hè megliu esse attentu. L'autore hà fattu assai esperimenti, è u mutivu più prubabile hè: a fuga di a cunchiglia di u strumentu di mantenimentu (cum'è tester, saldatura elettrica, etc.).
3. Per u chip cù a bateria nantu à u circuit board, ùn sguassate micca facilmente da u bordu.

2. Resetten circuit
1. Quandu ci hè un circuit integratu di grande scala nantu à u circuit board per esse riparatu, l'attenzione deve esse pagatu à u prublema di resettore.
2. Prima di a prova, hè megliu à mette in daretu nant'à u dispusitivu, accende è spegne a macchina ripetutamente è pruvà. È appughjà u buttone reset parechje volte.

3. Test di funzione è paràmetru
1. pò riflette solu l'area di cut-off, l'area di amplificazione è l'area di saturazione quandu rileva u dispusitivu. Ma ùn pò micca misurà i valori specifichi cum'è a frequenza operativa è a velocità.
2. In listessa manera, per i chips digitale TTL, solu i cambiamenti di output di i livelli alti è bassi ponu esse cunnisciuti, ma a vitezza di i so rising and falling edge ùn pò esse rilevatu.

4. Oscillator Crystal
1. Di solitu solu un oscilloscope (l'oscillatore di cristallo deve esse alimentatu) o un freccia di freccia pò esse usatu per a prova, è un multimetru ùn pò micca esse usatu per a misurazione, altrimenti u metudu di sustituzzioni pò esse usatu solu.
2. I difetti cumuni di l'oscillatore di cristalli sò: a. perdita interna, b. circuitu internu apertu, c. deviazione di frequenza variabile, d. perdita di condensatori cunnessi periferichi. U fenomenu di fuga quì deve esse misurata da a curva VI di .
3. Dui metudi di ghjudiziu ponu esse usatu in tutta a prova di bordu: a. Duranti a prova, i chips cunnessi vicinu à l'oscillatore di cristalli fallenu. b. Ùn si trovanu micca altri punti di difetti eccettu l'oscillatore di cristallo.

4. Ci sò dui tipi cumuni di oscillators cristal: a. dui pins. b. quattru pins, di quale u sicondu pin hè alimentatu, è l'attenzione ùn deve esse short-circuited à vuluntà. Cinque. Distribuzione di fenomeni di difetti 1. Statistiche incomplete di e parti difettose di u circuitu: 1) danni di chip 30%, 2) danni di cumpunenti discreti 30%,
3) 30 % du câblage (PCB filu di ramu rivestitu) hè rottu, 4) 10% di u prugramma hè dannatu o persu (ci hè una tendenza ascendente).
2. Si pò esse vistu da quì sopra chì quandu ci hè un prublema cù a cunnessione è u prugramma di u circuit board per esse riparatu, è ùn ci hè micca bonu bordu, micca familiarizatu cù a so cunnessione, è ùn pò micca truvà u prugramma uriginale, a pussibilità di riparà u bordu ùn hè micca grande.