1. Chip cù u prugramma
1. Chips EPROM sò generalmente micca adattati per danni.Perchè stu tipu di chip hà bisognu di luce ultravioletta per sguassà u prugramma, ùn dannu micca u prugramma durante a prova.In ogni casu, ci hè infurmazione: per via di u materiale utilizatu per fà u chip, cum'è u tempu passa da Long), ancu s'ellu ùn hè micca usatu, pò esse dannatu (principalmente si riferisce à u prugramma).Dunque hè necessariu di fà una copia di salvezza quant'è pussibule.
2. EEPROM, SPROM, etc., è ancu chips RAM cù batterie, sò assai faciuli di distrughje u prugramma.Sia tali chips distrughjeranu u prugramma dopu avè usatuper scansà a curva VI ùn hè ancu cunclusiva.Tuttavia, i culleghi Quandu avemu scontru stu tipu di situazione, hè megliu esse attentu.L'autore hà fattu assai esperimenti, è u mutivu più prubabile hè: a fuga di a cunchiglia di u strumentu di mantenimentu (cum'è tester, saldatura elettrica, etc.).
3. Per u chip cù a bateria nantu à u circuit board, ùn sguassate micca facilmente da u bordu.
2. Resetten circuit
1. Quandu ci hè un circuit integratu grande scala nantu à u circuit board per esse riparatu, l'attenzione deve esse pagatu à u prublema di resettore.
2. Prima di a prova, hè megliu à mette in daretu nant'à u dispusitivu, accende è spegne a macchina ripetutamente è pruvà.È appughjà u buttone reset parechje volte.
3. Test di funzione è paràmetru
1.pò riflette solu l'area di cut-off, l'area di amplificazione è l'area di saturazione quandu rileva u dispusitivu.Ma ùn pò micca misurà i valori specifichi cum'è a frequenza operativa è a velocità.
2. In listessa manera, per i chips digitale TTL, solu i cambiamenti di output di i livelli alti è bassi ponu esse cunnisciuti, ma a vitezza di i so rising and falling edge ùn pò esse rilevatu.
4. Oscillator Crystal
1. Di solitu solu un oscilloscope (l'oscillatore di cristallo deve esse alimentatu) o un freccia di freccia pò esse usatu per a prova, è un multimetru ùn pò micca esse usatu per a misurazione, altrimenti u metudu di sustituzzioni pò esse usatu solu.
2. I difetti cumuni di l'oscillatore di cristalli sò: a.perdita interna, b.circuitu internu apertu, c.deviazione di frequenza variabile, d.perdita di condensatori cunnessi periferichi.U fenomenu di fuga quì deve esse misurata da a curva VI di.
3. Dui metudi di ghjudiziu ponu esse usatu in tutta a prova di bordu: a.Duranti a prova, i chips cunnessi vicinu à l'oscillatore di cristalli fallenu.b.Ùn si trovanu micca altri punti di difetti eccettu l'oscillatore di cristallo.
4. Ci sò dui tipi cumuni di oscillators cristal: a.dui pins.b.quattru pins, di quale u sicondu pin hè alimentatu, è l'attenzione ùn deve micca esse short-circuited à vuluntà.Cinque.Distribuzione di fenomeni di difetti 1. Statistiche incomplete di parti difettose di u circuitu: 1) danni di chip 30%, 2) danni di cumpunenti discreti 30%,
3) 30 % du câblage (PCB filu di ramu rivestitu) hè rottu, 4) 10% di u prugramma hè dannatu o persu (ci hè una tendenza ascendente).
2. Si pò vede da quì sopra chì quandu ci hè un prublema cù a cunnessione è u prugramma di u circuit board per esse riparatu, è ùn ci hè micca un bonu bordu, micca familiarizatu cù a so cunnessione, è ùn pò micca truvà u prugramma uriginale, a pussibilità. di riparà u bordu ùn hè micca grande.
Tempu di Postu: Mar-06-2023